x熒光膜厚測試儀——博曼
【簡單介紹】
【詳細(xì)說明】
x熒光膜厚測試儀——博曼能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價錢*.有著非破壞,非接觸,多層合金測量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測量,從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。分析鍍層厚度和元素成色同時進(jìn)行,只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實用,準(zhǔn)確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術(shù)同行15年,在同測量領(lǐng)域風(fēng)蚤,成為膜厚儀*,精準(zhǔn)的數(shù)據(jù),*的技術(shù),嚴(yán)格的品質(zhì)要求,可靠、可信、快速的服務(wù),及一些專業(yè)意見與技術(shù)扶持,值得您的信賴。
x熒光膜厚測試儀——博曼的測試方法主要有:磁性測厚法,放射測厚法,電解測厚法,渦流測厚法,超聲波測厚法。
測量注意事項:
⒈在進(jìn)行測試的時候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會不會產(chǎn)生磁場,如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量,因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定,否則會影響測量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸,因此超聲波測厚儀在進(jìn)行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
相關(guān)產(chǎn)品
- 線路板膜厚測試儀—BA 100
- 線路板膜厚測試儀
- pcb板膜厚測試儀
- pcb板膜厚儀
- 膜厚測試儀—bowman博曼
- 膜厚測試儀 bowman博曼
- 金東霖_臺式膜厚儀
- BA 100_臺式膜厚儀
- BA 100_臺式膜厚測試儀
- 臺式膜厚測試儀
- 金東霖—膜厚測試儀
- BA 100—膜厚測試儀
- x熒光膜厚測試儀——博曼
- x熒光膜厚測試儀
- x熒光膜厚儀——深圳金東霖
- x熒光膜厚儀——金東霖科技
- x熒光膜厚儀——金東霖
- x熒光膜厚儀——博曼
- x熒光膜厚儀——bowman
- x熒光膜厚儀
- 半導(dǎo)體膜厚儀——博曼
- 半導(dǎo)體膜厚儀——bowman
- 半導(dǎo)體膜厚儀
- 電鍍X-RAY膜厚儀
- 半導(dǎo)體膜厚測試儀——BA 100
- 半導(dǎo)體膜厚測試儀——博曼
- 半導(dǎo)體膜厚測試儀——bowman
- 半導(dǎo)體膜厚測試儀——金東霖科技
- 半導(dǎo)體膜厚測試儀
- x射線膜厚測試儀
- x-ray膜厚測試儀
- x-ray膜厚儀
- 鍍金膜厚測試儀——bowman
- 鍍金膜厚測試儀
- 鍍層膜厚測試儀——美國
- 鍍層膜厚測試儀——bowman
- 鍍層膜厚測試儀——博曼
- 膜厚測試儀——bowman
- 膜厚測試儀——博曼
- 電鍍膜厚測試儀——美國
請輸入產(chǎn)品關(guān)鍵字: