x熒光膜厚儀能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價(jià)錢*.有著非破壞，非接觸，多層合金測量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測量，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。分析鍍層厚度和元素成色同時(shí)進(jìn)行,只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測量結(jié)果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實(shí)用,準(zhǔn)確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的*.可測量各類金屬層、合金層厚度。
測量技術(shù)同行15年，在同測量領(lǐng)域風(fēng)蚤，成為膜厚儀*，精準(zhǔn)的數(shù)據(jù)，*的技術(shù)，嚴(yán)格的品質(zhì)要求，可靠、可信、快速的服務(wù)，及一些專業(yè)意見與技術(shù)扶持，值得您的信賴。

x熒光膜厚儀技術(shù)指標(biāo)：
★ 元素分析范圍：從AL到U
★ 一次性可同時(shí)分析多層鍍層
★ 分析厚度檢測出限zui高達(dá)0.01um
★ 同時(shí)可分析多達(dá)5層以上鍍層
★ 相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型，厚度分析方法
★ 多次測量重復(fù)性zui高可達(dá)0.01um
★ *工作穩(wěn)定性小于0.1um（5um左右單鍍層樣品）
★ 溫度適應(yīng)范圍：15℃~30℃
★ 輸出電壓220±5V/50HZ（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）