膜厚測(cè)試儀——金東霖
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說(shuō)明】
膜厚測(cè)試儀——金東霖能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能*,而且價(jià)錢(qián)*.有著非破壞,非接觸,多層合金測(cè)量,高生產(chǎn)力,高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量,從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。分析鍍層厚度和元素成色同時(shí)進(jìn)行,只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實(shí)用,準(zhǔn)確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的*.可測(cè)量各類(lèi)金屬層、合金層厚度。
測(cè)量技術(shù)同行15年,在同測(cè)量領(lǐng)域風(fēng)蚤,成為膜厚儀*,精準(zhǔn)的數(shù)據(jù),*的技術(shù),嚴(yán)格的品質(zhì)要求,可靠、可信、快速的服務(wù),及一些專(zhuān)業(yè)意見(jiàn)與技術(shù)扶持,值得您的信賴(lài)。
膜厚測(cè)試儀——金東霖軟體說(shuō)明:
* 電腦操作系統(tǒng) XP系統(tǒng)
* 測(cè)量膜厚元素范圍:元素周期表13—92號(hào)元素間的所有鍍層,
使用FP法充許各元素鍍層次序的自由組合測(cè)量層層次,zui多可以測(cè)量四層(加基材zui多五層)
* 儀器支持二種鍍層厚度計(jì)算方法
(1)、無(wú)標(biāo)準(zhǔn)片的FP法(Fundamental Parameter)全新數(shù)學(xué)計(jì)算方法。
FP法名詞解釋?zhuān)杭丛跊](méi)有標(biāo)準(zhǔn)塊的前提下,一樣能精確測(cè)量,此方式是通過(guò)儀器直接讀取鍍層元能量信息,通過(guò)各無(wú)素能量信號(hào)的強(qiáng)弱或設(shè)定的各無(wú)素比例參數(shù),以一種數(shù)學(xué)的方式直接計(jì)算鍍的厚度。因?yàn)樗恍枰獦?biāo)準(zhǔn)塊,因此它不受標(biāo)準(zhǔn)塊的限制,在沒(méi)有各種合金鍍層標(biāo)準(zhǔn)塊的情況下樣精確的測(cè)量各種二元、三元合金鍍層)到目前為止,bowman是世界上*可實(shí)現(xiàn)此種新型測(cè)試技術(shù)的膜厚測(cè)量品牌,此技術(shù)已使用了17年。
(2)、支持傳統(tǒng)的帶標(biāo)準(zhǔn)塊的檢量線(xiàn)法,即通過(guò)鍍層標(biāo)準(zhǔn)塊建立測(cè)試程式檔案測(cè)量相對(duì)應(yīng)的鍍層厚度。
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