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基恩士 高精度三維掃描測(cè)量?jī)x VL-800系列配備全新3D-AI。通過(guò)AI的支持,可輕松獲取高品質(zhì)的3D數(shù)據(jù)。分析建議是一種全新功能,AI將根據(jù)產(chǎn)品的形狀,推薦...
基恩士 形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng) VK-X3000系列搭載白光干涉功能 ,納米/微米/毫米一臺(tái)即可完成測(cè)量 超越激光顯微鏡的限制,以三重掃描方式應(yīng)對(duì)?一臺(tái)即可測(cè)量納...
基恩士 3D輪廓測(cè)量?jī)xVR-6000系列采用 HDR 掃描算法提升了掃描能力,即使是光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x不擅長(zhǎng)的有光澤的目標(biāo)物或材料反光弱的目標(biāo)物,也能瞬間判斷理想條...
基恩士 數(shù)碼顯微系統(tǒng) VHX-X1系列 可自定義顯微系統(tǒng) 全新上市·自動(dòng)突顯瑕疵的“搜索照明"·突顯真實(shí)表面狀態(tài)的“Advanced Optical Shado...
基恩士 一體化熒光顯微成像系統(tǒng) BZ-X1000系列是一款一體化熒光顯微鏡,具有優(yōu)良的觀察功能、全電動(dòng)操作系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)即時(shí)目標(biāo)采集、高級(jí)成像和分析功能。 與傳統(tǒng)...
WM-系列 大范圍三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,只需無(wú)線探頭接觸測(cè)量目標(biāo)物即可輕松測(cè)量,測(cè)量范圍大
LM-系列 高精度圖像尺寸測(cè)量?jī)x,測(cè)量尺寸更加準(zhǔn)確,非常適合各種高精度測(cè)量需求場(chǎng)合。
通過(guò)IM-系列 圖像尺寸測(cè)量?jī)x,可以顯著提升測(cè)量效率,縮減工時(shí)。輕松完成操作,只需按下測(cè)量按鈕即可按指示測(cè)量所有尺寸。
基恩士 數(shù)碼顯微系統(tǒng) VHX-XF系列 支持各種分析工作的全新顯微系統(tǒng)將VHX系列的核心功能“觀測(cè)、拍攝、測(cè)量"集于一體。以便捷的操作實(shí)現(xiàn)高頻使用功能的入門(mén)機(jī)型...
基恩士 高精度三維掃描測(cè)量?jī)x VL-800系列配備全新3D-AI。通過(guò)AI的支持,可輕松獲取高品質(zhì)的3D數(shù)據(jù)。分析建議是一種全新功能,AI將根據(jù)產(chǎn)品的形狀,推薦...
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基恩士 3D輪廓測(cè)量?jī)xVR-6000系列采用 HDR 掃描算法提升了掃描能力,即使是光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x不擅長(zhǎng)的有光澤的目標(biāo)物或材料反光弱的目標(biāo)物,也能瞬間判斷理想條...
基恩士 數(shù)碼顯微系統(tǒng) VHX-X1系列 可自定義顯微系統(tǒng) 全新上市·自動(dòng)突顯瑕疵的“搜索照明"·突顯真實(shí)表面狀態(tài)的“Advanced Optical Shado...
基恩士 一體化熒光顯微成像系統(tǒng) BZ-X1000系列是一款一體化熒光顯微鏡,具有優(yōu)良的觀察功能、全電動(dòng)操作系統(tǒng),可實(shí)現(xiàn)即時(shí)目標(biāo)采集、高級(jí)成像和分析功能。 與傳統(tǒng)...
WM-系列 大范圍三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x,只需無(wú)線探頭接觸測(cè)量目標(biāo)物即可輕松測(cè)量,測(cè)量范圍大
LM-系列 高精度圖像尺寸測(cè)量?jī)x,測(cè)量尺寸更加準(zhǔn)確,非常適合各種高精度測(cè)量需求場(chǎng)合。
通過(guò)IM-系列 圖像尺寸測(cè)量?jī)x,可以顯著提升測(cè)量效率,縮減工時(shí)。輕松完成操作,只需按下測(cè)量按鈕即可按指示測(cè)量所有尺寸。
基恩士 數(shù)碼顯微系統(tǒng) VHX-XF系列 支持各種分析工作的全新顯微系統(tǒng)將VHX系列的核心功能“觀測(cè)、拍攝、測(cè)量"集于一體。以便捷的操作實(shí)現(xiàn)高頻使用功能的入門(mén)機(jī)型...
基恩士 高精度三維掃描測(cè)量?jī)x VL-800系列配備全新3D-AI。通過(guò)AI的支持,可輕松獲取高品質(zhì)的3D數(shù)據(jù)。分析建議是一種全新功能,AI將根據(jù)產(chǎn)品的形狀,推薦...
基恩士 形狀測(cè)量激光顯微系統(tǒng) VK-X3000系列搭載白光干涉功能 ,納米/微米/毫米一臺(tái)即可完成測(cè)量 超越激光顯微鏡的限制,以三重掃描方式應(yīng)對(duì)?一臺(tái)即可測(cè)量納...
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