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高頻(微波)介電常數測試儀

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更新時間：2023-11-17 08:11:26瀏覽次數：119次

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產品簡介

技術參數：頻率范圍：1G~20GHz同軸共振腔：介電常數Epsilon：1~15，準確度：+/-1%，介電損耗tangentdelta：0.05~0.0001，準確度：+/-5%主要特點：空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測

詳細介紹

技術參數：

頻率范圍：1G~20GHz

同軸共振腔：

介電常數Epsilon：1~15，準確度：+/-1%，

介電損耗tangent delta：0.05~0.0001，準確度：+/-5%

主要特點：

空洞共振腔適用于CCL/印刷線路板，薄膜等非破壞性低介電損耗材料量測。

印電路板主要由玻纖與環(huán)氧樹脂組成的, 玻纖介電常數為5~6, 樹脂大約是3, 由于樹脂含量, 硬化程度, 溶劑殘留等因素會造成介電特性的偏差, 傳統(tǒng)測量方法樣品制作不易, 尤其是薄膜樣品( 小于 10 mil) 量測值偏低,。

日本AET 公司針對CCL/印刷電路板設計空洞共振腔測試裝置 , 只需裁成小長條狀即可量測精確的復介電常數(Dk), 尤其是低損耗(Df)的樣品, 測量值非常精準。

用于介電常數測試儀，介電常數分析，介電損耗測試，高頻介電常數測量。

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