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美國(guó)BOWMAN（博曼）PCB板X-RAY膜厚儀
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- 金霖電子（香港）深圳市金東霖科技有限公司
- 2017-09-15 08:25:44
- 深圳市
- 美國(guó)
- 669
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說(shuō)明】
美國(guó)BOWMAN X射線熒光膜厚測(cè)試儀，采用上照式，通過(guò)三維的移動(dòng)和激光定位，實(shí)現(xiàn)對(duì)尺寸范圍較大部件進(jìn)行鍍層厚度和含量的點(diǎn)測(cè)量。能提供一般鍍層厚度和元素分析功能,不單性能,而且價(jià)錢*.分析鍍層厚度和元素成色同時(shí)進(jìn)行,只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果,多層鍍層的樣品也一樣能勝任.輕巧的樣品室,適合不同大小的樣品,功能實(shí)用,準(zhǔn)確性高,是五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的*.可測(cè)量各類金屬層、合金層厚度。
對(duì)于鍍層：不僅可以測(cè)量其成分比例，還可以測(cè)量厚度!
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