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美國博曼（BOWMAN）X-RAY膜厚測試儀
- 公司名稱：
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- 所 在 地：
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- 金霖電子（香港）深圳市金東霖科技有限公司
- 2017-09-16 11:20:24
- 深圳市
- 美國
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【簡單介紹】
【詳細說明】
美國博曼BA100膜厚測厚儀采用美國行業(yè)技術，能夠測量包含原子序號17至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,極薄的浸液鍍層(銀、金、鈀、錫等)和其它薄鍍層. 利用X射線熒光的非接觸式的無損測試技術*地應用于微電子學、光通訊和數(shù)據(jù)儲存工業(yè)中的金屬薄膜測量。可以同時測量多至6層的金屬鍍層的厚度和成份，測量厚度可以至微米（um），微英寸（u”），它也能測量多至20個元素的塊狀合金成份，是您節(jié)約生產(chǎn)成本，贏得客戶信賴的*。
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