發(fā)射譜XES是一種重要的分析技術(shù)，主要用于研究材料的電子結(jié)構(gòu)和化學(xué)性質(zhì)。硬X射線具有較高的能量，能夠深入樣品內(nèi)部，使XES成為探測材料深層信息的強(qiáng)有力工具。