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模塊芯片冷熱循環(huán)沖擊試驗箱是一種專門設(shè)計用于測試電子模塊、芯片及其組件在溫度變化和冷熱沖擊環(huán)境下的可靠性和耐久性的實驗設(shè)備。隨著電子產(chǎn)品向更高性能、更小體積發(fā)展...
快速升降溫高低溫濕熱試驗箱是一種專門用于測試材料、電子元件或產(chǎn)品在短時間內(nèi)經(jīng)歷高低溫變化及濕度變化對其性能影響的環(huán)境測試設(shè)備。與傳統(tǒng)的高低溫濕熱試驗箱不同，快速...
定制尺寸三綜合振動試驗箱 是一種根據(jù)客戶需求定制的設(shè)備，主要用于同時模擬和測試產(chǎn)品在不同溫濕度條件下受到振動影響的環(huán)境條件。與標(biāo)準(zhǔn)尺寸試驗箱相比，定制尺寸試驗箱...
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