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LET-2000系列半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)-云帆興燁

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產(chǎn)品型號LET-2000

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更新時間：2024-12-28 07:38:01瀏覽次數(shù)：44次

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產(chǎn)品簡介

半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)采用先發(fā)布的12 bit 示波器：正確反映波形的細(xì)節(jié)，并準(zhǔn)確計算出參數(shù)

詳細(xì)介紹

LET-2000系列半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)

LET-2000D是滿足IEC60747-8/9、JESD24標(biāo)準(zhǔn)的半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)分析系統(tǒng)。旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數(shù)評估、驅(qū)動設(shè)計、PCB設(shè)計等需要半導(dǎo)體動態(tài)參數(shù)的場合。特別對于應(yīng)用第三代半導(dǎo)體的需要，LET2000D有著較高的系統(tǒng)帶寬，可以有效的測量出實際的器件參數(shù)。
圖片2.png

- 雙脈沖測試法可以測試 IGBT 模塊和驅(qū)動的性能，獲取 IGBT 穩(wěn)態(tài)和暫態(tài)過程中的主要參數(shù)，用以評估IGBT 模塊和驅(qū)動的性能，并進(jìn)行電路參數(shù)的優(yōu)化。

- 具體包括測試 IGBT 的實際工況、開關(guān)損耗、關(guān)斷電壓尖峰、開關(guān)暫態(tài)震蕩情況、二極管反向恢復(fù)電流、雜散電感影響、吸收電路影響、短路保護(hù)功能等，可以通過測試進(jìn)行優(yōu)化柵極電阻 RG_ON 和 RG_OFF 參數(shù)、吸收電路參數(shù)、開關(guān)頻率設(shè)置等，并可以進(jìn)行 IGBT 模塊的并聯(lián)和串聯(lián)實驗。
圖片3.png

硬件優(yōu)勢:
- 采用先發(fā)布的12 bit 示波器：正確反映波形的細(xì)節(jié)，并準(zhǔn)確計算出參數(shù)
- 采用先發(fā)布的光隔離、高CMRR探頭系統(tǒng)，解決SIC/GAN的測試難點
- 高帶寬的電壓和電流探測，彌補(bǔ)一般系統(tǒng)對SIC/GAN 的測量要求
- 可以滿足上/下管測試，避免頻繁連接探頭
- 電壓覆蓋范圍寬、并可以再次擴(kuò)展
- 器件驅(qū)動設(shè)計支持SIC/GAN器件
- 系統(tǒng)帶寬：>400MHz
-系統(tǒng)可以定制

軟件特點：
-測量參數(shù)齊全：開關(guān)參數(shù)、短路參數(shù)、反向恢復(fù) 參數(shù)
-支持器件類型多：單管/模塊，MOSFET、IGBT、 FWD、GTR…
-測試方式：單脈沖、多脈沖
- 離線數(shù)據(jù)分析：既可以在線測量，也可以記錄數(shù)據(jù) 離線分析
- 測試UI符合工程師的使用習(xí)慣
- 測量項目及器件支持?jǐn)U展

關(guān)鍵詞：PC

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