布魯克推出了新型微聚焦XRF—M6 JETSTREAM。M6 JETSTREAM是布魯克針對(duì)大樣品原位無(wú)損分析而開(kāi)發(fā)的新產(chǎn)品。可移動(dòng)設(shè)計(jì)使得用戶可以隨意將M6 JETSTREAM移動(dòng)到自己感興趣的樣品前進(jìn)行分析，比如畫廊、博物館或者工作現(xiàn)場(chǎng)。M6 JETSTREAM可以實(shí)現(xiàn)800mmx600mm的大面積掃描，微束斑的直徑可低至100μm，掃描速度可達(dá)100mm/s。

布魯克推出了新型微聚焦XRF—M6 JETSTREAM。M6 JETSTREAM是布魯克針對(duì)大樣品原位無(wú)損分析而開(kāi)發(fā)的新產(chǎn)品。可移動(dòng)設(shè)計(jì)使得用戶可以隨意將M6 JETSTREAM移動(dòng)到自己感興趣的樣品前進(jìn)行分析，比如畫廊、博物館或者工作現(xiàn)場(chǎng)。M6 JETSTREAM可以實(shí)現(xiàn)800mmx600mm的大面積掃描，微束斑的直徑可低至100μm，掃描速度可達(dá)100mm/s。

 

M6 JETSTREAM特色應(yīng)用領(lǐng)域:
文物分析——能夠現(xiàn)場(chǎng)原位分析樣品，使用戶免去了搬運(yùn)樣品的麻煩，同時(shí)避免了在搬運(yùn)中對(duì)文物可能造成的損壞。

 

地球科學(xué)——可分析大鉆芯樣或者其他礦物樣品。

 

故障分析——可用于大部件樣品的缺陷篩查、不均勻性分析，以及其他感興趣的問(wèn)題。

M6 JETSTREAM用于文物樣品檢測(cè)
主要特點(diǎn)：
1.M6 JETSTREAM不僅可以分析水平放置的樣品，還可以分析垂直放置的樣品。
2.在高激發(fā)強(qiáng)度以及樣品臺(tái)的快速移動(dòng)情況下，仍可實(shí)現(xiàn)快速檢測(cè)。
3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之內(nèi)，根據(jù)樣品結(jié)構(gòu)及所需空間分辨率調(diào)整到相應(yīng)的尺寸。
4.采用布魯克*的XFlash®硅漂移探測(cè)器，該探測(cè)器具有很高的計(jì)數(shù)率能力，在很寬的計(jì)數(shù)率范圍內(nèi)擁有能量分辨率。
5.特別的安全電路為用戶提供X射線輻射風(fēng)險(xiǎn)防范措施。
6.超聲波測(cè)距措施可以防止儀器與被測(cè)樣品發(fā)生碰撞。
7.由于M6 JETSTREAM的可移動(dòng)性，不論樣品結(jié)構(gòu)如何，它都可以很容易的準(zhǔn)確定位。另外，M6 JETSTREAM可以很方便的拆卸成四部分，使其便于攜帶。