M1 MISTRALM1 MISTRAL鍍層測(cè)厚儀
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細(xì)說明】
M1 MISTRAL 是一款緊湊型的臺(tái)式 μ-XRF 光譜儀,用于分析塊狀材料和涂層。它的操作速度快、成本效益, 可以提供與材料元素成分有關(guān)的準(zhǔn)確信息。
測(cè)定鍍層樣品厚度及成分例如
Zn-Fe、Ag-Cu、Au-Ni-Cu、Sn-Ni-Cu、Cr-Ni-Cu、Au-Pd-Ni-Cu
珠寶及合金分析:
M1 MISTRA是珠寶、硬幣及貴金屬的理想分析工具。所有珠寶合金、鉑族金屬及銀制品。不到1分鐘就可以確定其準(zhǔn)確成分。分析結(jié)果可以用百分含量或K(開)表示。
該儀器具備高空間分辨率,光斑大小低至 100 微米。它可以分析任意形狀的樣品,例如zui復(fù)雜的珠寶,而無需進(jìn)一步的制備,更重要的是,它的分析是無損的。支持的樣品尺寸zui大可達(dá) 100x100x100 立方毫米。帶有交叉十字線的視頻顯微鏡,可以精確定位到您要測(cè)量的位置。電動(dòng) Z 型取樣臺(tái)允許快速聚焦。可選的 X-Y-Z 取樣臺(tái)甚至可以提供更大的舒適性。
M1 MISTRAL 配備了高亮度微焦點(diǎn) X 射線管,確保出色的激發(fā)測(cè)量光斑,產(chǎn)生高熒光效應(yīng)。憑借功能強(qiáng)大、易于使用的 XSpect 軟件套件,該儀器可交付準(zhǔn)確的量化結(jié)果,而不論是分析塊狀材料還是zui復(fù)雜的多層結(jié)構(gòu)。
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