Marsurf M1表面測量儀器與系統(tǒng)Marsurf M1
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- 鉑悅儀器（上海）有限公司 北京辦事處
- 2018-04-20 10:35:46
- 北京市
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【簡單介紹】
【詳細(xì)說明】
表面測量儀器與系統(tǒng)Marsurf M1
設(shè)備提供符合DIN EN ISO/AMSE/prEN 10049的大部分參數(shù)（Ra,Rz,Rmax,and RPc)和JIS日本標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)（Rz,Ra).
Perthometer M1 提供許多的測量功能。自動功能科識別周期及非周期輪廓，不需要預(yù)測量即可按照標(biāo)準(zhǔn)自動設(shè)置濾波參數(shù)，避免人為因素導(dǎo)致錯誤的設(shè)置。
在便攜式應(yīng)用中，可通過儀器內(nèi)置的打印機(jī)自動或按鍵打印測量結(jié)果，也可以通過串口與計算機(jī)連接使用。
測量范圍可達(dá)150μm
標(biāo)準(zhǔn):DIN/ISO/JIS
測量長度：1.75mm,5.6mm,17.5mm
截止波長：0.25mm/0.80mm/2.5mm
可選截止波長
取樣長度可選1至5個
根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)自動選擇過濾參數(shù)和取樣長度
根據(jù)DIN EN ISO 11562的相位矯正濾波器
參數(shù)更具DIN/ISO/SEP:Ra,Rz,Rmax,RPc和JIS:Ra,Rz
根據(jù)輪廓幅值自動顯示輪廓比例
打印粗糙度形貌和測量報告
動態(tài)測針校準(zhǔn)
鎖定設(shè)置。防止數(shù)據(jù)被故意更改
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