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行業(yè)產(chǎn)品

  • 行業(yè)產(chǎn)品

深圳市田野儀器有限公司


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日本AET陶瓷介電常數(shù)測(cè)試儀

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產(chǎn)品型號(hào)

品       牌其他品牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

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所  在  地深圳市

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更新時(shí)間：2024-12-23 16:10:32瀏覽次數(shù)：141次

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經(jīng)營(yíng)模式：生產(chǎn)廠家

商鋪產(chǎn)品：93條

所在地區(qū)：廣東深圳市

聯(lián)系人：黃生 （經(jīng)理）

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

日本AET公司新推出了高頻（微波）介電常數(shù)測(cè)試儀，新技術(shù)的出現(xiàn)對(duì)材料提出新的性能要求，包括微波介質(zhì)陶瓷、PCB材料、半導(dǎo)體材料、手機(jī)天線(xiàn)材料、手機(jī)外殼材料、電磁屏蔽材料、導(dǎo)熱散熱材料等都將在5G應(yīng)用中發(fā)生改變。日本AET陶瓷介電常數(shù)測(cè)試儀

詳細(xì)介紹

日本AET陶瓷介電常數(shù)測(cè)試儀

日本 AET 介電常數(shù)測(cè)試儀是一款用于測(cè)量材料介電常數(shù)和介電損耗的專(zhuān)業(yè)儀器，以下是其詳細(xì)介紹：

產(chǎn)品型號(hào)及技術(shù)參數(shù)


  • TE 空洞共振腔型號(hào)：可測(cè)試頻率范圍為 10G-40GHz，適用于測(cè)量厚度小于 0.3mm 的薄膜。其介電常數(shù)準(zhǔn)確度為 ±1%，介電損耗準(zhǔn)確度為 ±5%，樣品形狀為方形片狀，不同頻率下對(duì)樣品尺寸要求不同，如 10GHz 時(shí)需大于 50mm×50mm，20GHz 時(shí)需大于 40mm×40mm，28/40GHz 時(shí)需大于 30mm×30mm1.

  • 同軸共振腔型號(hào)：可測(cè)試頻率范圍為 800M～9.4GHz，介電常數(shù)范圍 1-15，準(zhǔn)確度 ±1%，介電損耗范圍 0.1-0.001，準(zhǔn)確度 ±5%。該型號(hào)共有兩種同軸共振腔，Type A 可測(cè)頻點(diǎn)為 0.8/2.45/4.2/5.8/7.6GHz，Type B 可測(cè)頻點(diǎn)為 1/3/5/7/9GHz23.

工作原理


日本 AET 介電常數(shù)測(cè)試儀利用微波技術(shù)結(jié)合高 Q 腔以及 3D 電磁場(chǎng)模擬技術(shù)，采用德國(guó) CST 公司的 3D 電磁類(lèi)比軟件 MW-StudioTM，測(cè)量材料的高頻介電常數(shù)，從而保證了介電常數(shù)測(cè)量結(jié)果的精確性23.

主要特點(diǎn)


  • 測(cè)量穩(wěn)定性高：TE 空洞共振腔有固定的間隙插入待測(cè)樣品，相比將樣品夾在諧振器中的方法，測(cè)量穩(wěn)定性更優(yōu)，且適用于各種材料，包括軟性和脆性樣品1.

  • 非破壞性測(cè)量：同軸共振腔適用于不同形狀樣品的非破壞性測(cè)量，操作簡(jiǎn)易，內(nèi)置的反饋振蕩器電路可實(shí)現(xiàn)精確量測(cè)123.

  • 高損耗分辨率：TE 空洞共振腔模式具有較高的損耗分辨率，尤其適合低損耗薄膜的測(cè)量1.

應(yīng)用領(lǐng)域


主要應(yīng)用于 5G 材料、高速數(shù)字 / 微波電路基底材料、濾波器、介電天線(xiàn)、化學(xué)制品、薄膜與新材料、半導(dǎo)體材料、電子材料（包括 CCL 和 PCB）、陶瓷材料、納米材料、光電材料等領(lǐng)域123.

符合標(biāo)準(zhǔn)


TE 空洞共振腔符合標(biāo)準(zhǔn) JIS R1641、IPC-TM650 2.5.5.13；其他測(cè)量方法也符合如 JIS C2565、ASTM D2520、IEC 60556 等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)1.


日本AET陶瓷介電常數(shù)測(cè)試儀

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