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勞厄單晶取向測試系統(tǒng)

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更新時間：2022-10-02 09:21:44瀏覽次數(shù)：261次

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產(chǎn)品簡介

勞厄單晶取向測試系統(tǒng)，實時確定晶體方向，精度高達0.1度；PSEL 軟件定向誤差低至 0.05度；

詳細介紹

勞厄單晶取向測試系統(tǒng)：

背散射勞厄測試系統(tǒng)，實時確定晶體方向，精度高達0.1度；
PSEL 軟件定向誤差低至 0.05度；
多晶硅片二維定向mapping；
大批量樣品篩選；
超20kg重負荷樣品定位

水平放置系統(tǒng)

特征	優(yōu)點
<200um 光束尺寸	可測量小晶體
電動位移臺	可沿生長軸軸向掃描
電動角位移	與同步加速器/中子設(shè)備直接兼容
手動角位移	與切割刀具直接兼容

垂直放置系統(tǒng)

特征	優(yōu)點
<200um 光斑	適用于小晶粒的多晶結(jié)構(gòu)
大范圍電動線性掃描位移臺	允許自動晶圓mapping或多個樣品
電動Z 軸驅(qū)動	適用大尺寸晶棒或樣品
手動角位移	允許定位到+/- 0.02度精度

配備PSEL CCD 背反射勞厄X-RAY 探測器：

有效輸入探測面約： 155*105 mm
最小輸入有效像素尺寸83um，1867*1265 像素陣列
可選曝光時間從1ms 到35分鐘
芯片上像素疊加允許以犧牲分辨率為代價增強靈敏度
自動背景扣除模式
16位高精度采集模式
12位快速預(yù)覽模式
PSEL 勞厄影像采集處理專業(yè)軟件

勞厄影像校準軟件：

自動檢測衍射斑點，并根據(jù)參考晶體計算斑點位置；
根據(jù)測角儀和晶體軸自動計算定向誤差(不需要手動擬合扭曲的圖形)
以CSV格式保存角度測量值，以進一步保證質(zhì)量的可追溯性；
頂部到底部的終端用戶菜單，允許結(jié)晶學(xué)用戶自行逐步確認定位程序；
基于Python的軟件，允許使用套接字命令對現(xiàn)有軟件/系統(tǒng)進行遠程訪問控制；

系統(tǒng)附件包括：

勞厄X-RAY 探測器
勞厄校準軟件
高亮度X-RAY 發(fā)生器
電動/手動角位移臺& 高精度位移臺；
樣本定位/視頻監(jiān)控攝像頭；
激光距離傳感器/操縱桿

典型勞厄衍射應(yīng)用圖樣：

勞厄單晶取向測試系統(tǒng)應(yīng)用方向：

探測器材料： HgCdTe/CdTe, InGaAs, InSb;
窗口玻璃材料&壓電/鐵電陶瓷： Al2O3, Quantz，LiNbO3
金屬合金：鎢，鉬，鎳基合金；
激光晶體材料： YAG, KTP, GaAs
薄膜/半導(dǎo)體基地材料： AIN, InP SiC;
磁性&超導(dǎo)材料: BCO/BSCCO/HBCCO, FeSe， NbSn/NbTi
閃爍體材料： BGO/LYSO, CdWO4, BaF2/CaF2;

關(guān)鍵詞：傳感器

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